GBT Technologies Inc. hat einen Bewilligungsbescheid für seine Patentanmeldung zur Zuverlässigkeitsprüfung und Autokorrektur von Mikrochips für die elektronische Designautomatisierung (EDA) erhalten, die den internen Projekt-Codenamen Epsilon erhalten hat. Da die Fertigungsknoten für integrierte Schaltkreise (ICs) immer kleiner werden, sehen sich die Designfirmen mit einem breiten Spektrum komplexer Herausforderungen im Bereich der elektrischen Zuverlässigkeit konfrontiert, die von den Gesetzen der Physik bestimmt wird. Die Zuverlässigkeit von Mikrochips bezieht sich auf die Fähigkeit eines ICs, die beabsichtigten Funktionen über seine gesamte Lebensdauer hinweg präzise und konsistent auszuführen.

Sie umfasst die Fähigkeit des Chips, unter verschiedenen Umgebungsbedingungen und Belastungen innerhalb bestimmter Parameter ohne Beeinträchtigung oder Ausfall zu arbeiten. Hochleistungscomputersysteme erfordern optimale elektrische und thermische Eigenschaften, um Zuverlässigkeit und Genauigkeit zu gewährleisten. Fortschrittliche ICs sind das Herzstück dieser Systeme und müssen mit einem hohen Maß an Zuverlässigkeit funktionieren.

Insbesondere in den Bereichen Medizin, Luftfahrt, Transport, Datenspeicherung und Kommunikation ist die Zuverlässigkeit eines Mikrochips zu einem entscheidenden Faktor geworden. Die Zuverlässigkeit eines Mikrochips wird besonders wichtig, wenn die Größe der ICs auf niedrige Nanometer-Dimensionen sinkt. Mit der Verkleinerung der Bauteile entstehen komplexere Herausforderungen für die Zuverlässigkeit, wie Elektromigration, Prozessvariationen und andere.

Die Epsilon-Patentanmeldung von GBT stellt eine innovative Technologie vor, die sich mit der Physik fortgeschrittener Halbleiterknoten befasst und ein hohes Maß an Zuverlässigkeit, ein optimales thermisches Design, einen geringeren Stromverbrauch und eine hohe Leistung bietet. Die beschriebene Technologie umfasst Algorithmen des maschinellen Lernens, die robustes Design, Prozessoptimierung, Charakterisierung, Modellierung und Simulation ermöglichen. Die Technologie, die der Patentanmeldung zugrunde liegt, identifiziert Zuverlässigkeitsmängel, beschreibt die gefundenen Probleme und ermöglicht eine automatische Korrektur dieser Zuverlässigkeitsprobleme, und zwar bereits in der Designphase des ICs.

Die Techniken des maschinellen Lernens werden die Datenanalyse, Identifizierung und Kategorisierung durchführen und Schlussfolgerungen für die Ausführung der optimalen automatischen Korrektur des IC-Layouts ziehen. Die Technologie soll es IC-Designern ermöglichen, Schaltkreise bereits in der Entwurfsphase zu analysieren und zu korrigieren, und zwar mit höherer Effizienz und in Echtzeit. Es wird erwartet, dass das Patent in den kommenden Monaten erteilt wird.

GBT plant, seine F&E-Bemühungen in diesem Bereich fortzusetzen und moderne Technologien zu entwickeln, die zuverlässige, stromsparende und leistungsstarke Mikrochips der nächsten Generation ermöglichen. Es gibt keine Garantie dafür, dass das Unternehmen bei der Erforschung, Entwicklung und Umsetzung dieses Systems erfolgreich sein wird. Um dieses Konzept erfolgreich umsetzen zu können, muss das Unternehmen angemessenes Kapital zur Unterstützung seiner Forschung aufbringen und im Falle einer erfolgreichen Erforschung und Entwicklung eine strategische Beziehung zu einem Dritten eingehen, der Erfahrung in der Herstellung, dem Verkauf und dem Vertrieb dieses Produkts hat.

Es gibt keine Garantie, dass das Unternehmen bei einem oder allen diesen kritischen Schritten erfolgreich sein wird.