Kurs Onto Innovation Inc.

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ONTO

Halbleiter-Zubehör

Markt geschlossen - Nyse 22:00:02 30.11.2023 Intraday Chart für Onto Innovation Inc. % 5 Tage % 1. Jan.
141,01 USD +0,81% +3,27% +107,09%
Umsatz 2023 * 806 Mio 705 Mio Umsatz 2024 * 918 Mio 803 Mio Marktwert 6.921 Mio 6.051 Mio
Nettoergebnis 2023 * 125 Mio 109 Mio Nettoergebnis 2024 * 195 Mio 170 Mio KUV 2023 *
8,59x
Nettoliquidität 2023 * - 0 Nettoliquidität 2024 * - 0 KUV 2024 *
7,54x
KGV 2023 *
57,9x
KGV 2024 *
40,3x
Beschäftigte 1 636
Rendite 2023 *
-
Rendite 2024 *
-
Streubesitz 99,20%
Dynamischer Chart
1 Tag+0,81%
1 Woche+3,27%
1 Monat+25,49%
3 Monate+1,46%
6 Monate+31,36%
Laufendes Jahr+107,09%
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1 Woche
134.84
Kursextrem 134.84
142.77
1 Monat
115.07
Kursextrem 115.07
142.77
Laufendes Jahr
67.55
Kursextrem 67.55
147.72
1 Jahr
65.61
Kursextrem 65.61
147.72
3 Jahre
44.48
Kursextrem 44.48
147.72
5 Jahre
20.32
Kursextrem 20.32
147.72
10 Jahre
20.32
Kursextrem 20.32
147.72
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Manager TitelAlterSeit
Chief Executive Officer 53 2015
Director of Finance/CFO 53 2022
Investor Relations Contact - -
Aufsichtsräte TitelAlterSeit
Director/Board Member 66 2015
Director/Board Member 68 2021
Director/Board Member 64 2014
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Datum Kurs % Volumen
30.11.23 141,01 +0,81% 556 403
29.11.23 139,88 +2,72% 381 300
28.11.23 136,18 -1,53% 359 423
27.11.23 138,29 +0,51% 328 982
24.11.23 137,59 +0,76% 92 831

verzögerte Kurse Nyse, Am 30. November 2023 um 22:00 Uhr

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Onto Innovation Inc. beschäftigt sich mit dem Design, der Entwicklung, der Herstellung und dem Support von Mess- und Inspektionsgeräten für die Halbleiterindustrie. Die Halbleiterindustrie umfasst Prozesskontrollinstrumente, die optische Messtechnik auf strukturierten und unstrukturierten Wafern, Wafer-Makrodefektinspektion, einschließlich Makroinspektion von 2D- und 3D-Wafer-Merkmalen, Wafersubstrat- und Paneelsubstrat-Lithografiesysteme sowie analytische Software für die Prozesskontrolle durchführen. Die Produkte des Unternehmens werden von Herstellern von Siliziumwafern, Halbleiterbauelementen und fortschrittlichen Verpackungsherstellern auf dem Halbleitermarkt eingesetzt. Zu den Produkten des Unternehmens gehören automatisierte Metrologiesysteme, integrierte Metrologiesysteme, Inspektion/Charakterisierung von Siliziumwafern auf der gesamten Oberfläche, Makrodefektinspektion, automatisierte Defektklassifizierung und Musteranalyse, Ausbeuteanalyse, Opakfilm-Metrologie, 4D-Technologie, Advanced Packaging Lithographie, Prozesskontrollsoftware und Ausbeutemanagementsoftware.
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