Teradyne, Inc. gab die Auslieferung seiner 8.000sten J750 Halbleiter-Testplattform bekannt. Dieser Meilenstein wurde mit V-Test erreicht, einem führenden Anbieter von ausgelagerten Halbleitermontage- und Testsystemen (OSAT) in China. Der Teradyne J750 Tester wird bei allen weltweit führenden Herstellern von Halbleiterchips eingesetzt und umfasst Lösungen für die Wafersortierung und den Endtest von Mikrocontrollern, drahtlosen Geräten, Bildsensoren und mehr.

Die J750-Tester sind branchenweit führend in Bezug auf Qualität, Markteinführung und Kosteneffizienz. Sie bieten einen höheren Durchsatz und eine höhere Anzahl von Testplätzen, reduzieren die Testzeit an einem Standort und optimieren die Effizienz von Paralleltests. V-Test bietet Testdienstleistungen und Produktionskapazitäten für erstklassige Fabless-/Design-Häuser in China und für Fabless-Unternehmen in Übersee. Das Unternehmen testet Produkte von Consumer- bis hin zu Automotive-Systemen auf Chips (SoCs) in verschiedenen Endproduktsegmenten in den Bereichen Automotive, Computing, Mobilität, Energie und Consumer-Produkte.

Die Anker-Kunden von V-Test testen Produkte mit hohen Stückzahlen und hohem Mischungsverhältnis. V-Test besitzt mehr als 100 Teradyne SoC-Tester für die Serienproduktion und die Testentwicklung, darunter eines der ersten UltraFLEXplus-Testsysteme, das nach China geliefert wurde.