NI kündigt eine schnell konvergierende Kreuzkorrelationsmesstechnik an, die bei Wireless-LAN-Signalen (WLAN) eine erstklassige EVM-Leistung (Error Vector Magnitude) bietet. Die neue Technik nutzt eine patentierte Technologie, die es Ingenieuren ermöglicht, sowohl die Genauigkeit als auch die Messgeschwindigkeit von kritischen EVM-Messungen zu verbessern. Damit können Hersteller von WLAN-Geräten die Einhaltung der Spezifikationen und modernste Leistung garantieren und gleichzeitig die Markteinführung beschleunigen.

Die Weiterentwicklung des WiFi7- oder IEEE 802.11be-Standards bietet Verbrauchern dramatische Verbesserungen des Datendurchsatzes durch größere Kanalbandbreiten, verbesserte Spektrumeffizienz und Modulationsverfahren höherer Ordnung wie 4096-QAM. WiFi7 stellt auch neue technische Anforderungen an die Hersteller von WLAN-Geräten und verlangt, dass WLAN-Systeme und -Komponenten strengere RF-Leistungsanforderungen erfüllen. Eine der größten Herausforderungen bei der RF-Leistungsmessung neuer WiFi7-Designs ist die EVM-Messung über eine große RF-Bandbreite.

Um diese Herausforderung zu meistern, hat NI eine Multi-Instrumenten-Messtechnik eingeführt, die die Vorteile von zwei NI-Vektorsignal-Transceivern (VSTs) nutzt. Der Ansatz nutzt die Kreuzkorrelationssignalverarbeitung, um die Messgenauigkeit zu verbessern und die Leistungsspezifikationen von WiFi7 zu erreichen. Die neue Technik implementiert eine patentierte Technologie, die es Ingenieuren ermöglicht, die Zeit für die Durchführung von Messungen mit extrem hohem Dynamikbereich und großer Bandbreite im Vergleich zu herkömmlichen Kreuzkorrelationsmethoden je nach Szenario um das bis zu 100-fache zu reduzieren.

Das Ergebnis ist eine kürzere Produktcharakterisierung, die es den Testingenieuren ermöglicht, die Zeit bis zur Markteinführung zu verkürzen. Das hier beschriebene EVM-Messverfahren ist durch das US-Patent Nr. 10,841,019 und die US-Patentveröffentlichung Nr.: 20220065972 geschützt.

Neben der Verbesserung der Messleistung bieten softwarezentrierte automatisierte PXI-Testsysteme eine branchenführende Flexibilität und Skalierbarkeit. Durch die Standardisierung der gesamten NI-Instrumentenplattform von DC bis mmWave können Ingenieure die Gesamtcharakterisierungszeit reduzieren und gleichzeitig die Testabdeckung erhöhen. Dadurch können NI-Kunden eine höhere Produktleistung erzielen und gleichzeitig den Produktentwicklungsprozess beschleunigen.